Signal Silisyum Tayin Sistemi

Sıvı numunelerde Silisyum (Si) tayinleri için WDXRRF analiz sistemi

  1. Genel Özellikler

    Monokromatik Dalga Boyu Yayınım XRF (MWDXRF) teknolojisi ile gürültü ve hata payının en aza indirildiği Signal Sistemleri, tüm hidrokarbon matrislerinde 0.5 ppm seviyesine kadar en doğru sonuçlar elde edilmektedir.

  2. Teknik Özellikler
    Ölçüm aralığı 0.4 ppm – 3000 ppm
    Analiz süresi 30 – 900 sn
    Numune kabı hacmi 10 mL
    Kontrol Dokunmatik ekran
    Ortam gereksinimi 5 – 40°C, (40 – 104°F)
    Güç gereksinimi 100 – 120 VAC, 47 – 63 Hz at 6 Amp
    I/O Portları Ethernet 10/100 baseT, RS 232
    Boyutlar (GxDxY) 37 x 50 x 34 cm
  3. Standartlar
    • ASTM D7757
  4. İletişim Formu
  5. Dokümanlar
  6. İlgili Ürünler