X Pert EDXRF Elemental Görüntüleme Sistemi

Farklı modelleri ile C(6)-Fm(100) aralığında tüm elementlerin belirlenmesi için geliştirilmiştir.

  1. Genel Özellikler

    8 adet filtre ve 8 adet ikincil hedefin bir arada bulunduğu patentli tasarımı ile ppm seviyesi ölçümlerin en hassas şekilde elde edilmesini sağlar.


    Ürün Özellikleri

    • Flor (F) – Fermenyum (Fm) aralığında tüğm elementlerin görüntülemesi
    • Tam entegre bilgisayar sistemi
    • Yüksek çözünürlüklü Silicon Drift Detector
    • Çeşitli boyutlardaki numuneleri alacak şekilde tasarlanmış, değişken spot boyutlarına sahip güçlü bir X-Ray tüpü
    • İz ve küçük elementlerin hızlı ve doğru bir şekilde belirlenmesi için sekiz ikincil hedef ve sekiz özelleştirilebilir tüp filtre
  2. Teknik Özellikler
    Dedektör SDD: 125 eV hassasiyetinde SDD (Silicon Drift Detector)
    SDD LE: Optimize hafif element dedektörü
    Ölçüm aralığı 0.1 ppm – %100
    Eksitasyon 50 kV, 50W Rh anot X-Işını kaynağı
    Çalışma ortamı Hava / Helyum / Vakum
    Eksitasyon tipi Direkt veya ikincil hedef üzerinden
    Güç gereksinimi 110 – 230 VAC 50/60 Hz
    Ağırlık 50 kg
    Boyutlar (GxDxY) 55 x 55 x 32 cm
  3. İletişim Formu
  4. Dokümanlar
  5. İlgili Ürünler