Nova Laboratuvar EDXRF Görüntüleme Sistemi

Nova, Vega & Apollo laboratuvar EDXRF sistemleri içerdikleri yüksek güçlü X-Işını kaynağı ile tüm numune tipleri için en düşük ppm seviyelerinin en kararlı şekilde görüntülenmesini sağlar.

  1. Genel Özellikler

    Geniş analiz haznesi, farklı boyutlardaki numuneler için herhangi bir numune hazırlığı gerektirmeden analiz imkanı sunar.


    Ürün Özellikleri

    • Silikon Drift Dedektörü (SDD) daha düşük elektronik gürültü ve daha yüksek sayım oranları sağlar, bu da Si-PIN dedektörüne kıyasla daha yüksek enerji çözünürlüğüne ve daha hızlı sonuçlara dönüştürülür.
    • Sekiz ikincil hedef, alaşım metaller, plastik ve jeolojik numuneler gibi karmaşık matrislerde bile hızlı ve hassas ölçüm için maksimum hassasiyet sağlar.
    • Çok yönlü laboratuvar spektrometreleri; sıvıları, katıları, tozları ve hava filtrelerini analiz edebilir.
    • 10 konumlu otomatik örnekleyicinin tasarımı, minimum düzeyde insan müdahalesine izin verirken, otomatik yükleme ve gözetimsiz çalışmaya olanak sağlar.
  2. İletişim Formu
  3. Dokümanlar
  4. İlgili Ürünler