X-ACT EDXRF Elemental Analiz Sistemi

Seçilebilir 8 adet filtre x-ray filtrenin bir arada bulunduğu tasarımı ile ppm seviyesi ölçümlerin en hassas şekilde elde edilmesini sağlar.

  1. Genel Özellikler

    X-ACT EDXRF Elemental Analiz Sistemi, seçilebilir 8 adet filtre x-ray filtrenin bir arada bulunduğu tasarımı ile ppm seviyesi ölçümlerin en hassas şekilde elde edilmesini sağlar.


    Ürün Özellikleri

    • Flor (F) – Fermenyum (Fm) aralığında tüm elementlerin görüntülemesi
    • Tam entegre bilgisayar sistemi
    • Yüksek çözünürlüklü Silicon Drift Detector
    • Çeşitli boyutlardaki numuneleri alacak şekilde tasarlanmış, değişken spot boyutlarına sahip güçlü bir X-Ray tüpü
    • İz ve küçük elementlerin hızlı ve doğru bir şekilde belirlenmesi için sekiz ikincil hedef ve sekiz özelleştirilebilir tüp filtre 
  2. Teknik Özellikler
    DedektörSDD: 125 eV hassasiyetinde SDD (Silicon Drift Detector)
    SDD LE: Optimize hafif element dedektörü
    Ölçüm aralığı0.1 ppm – %100
    Eksitasyon40 kV, 18W Rh anot X-Işını kaynağı
    Çalışma ortamıHava / Helyum / Vakum
    Eksitasyon tipiDirekt veya ikincil hedef üzerinden
    Güç gereksinimi110 – 230 VAC 50/60 Hz
    Ağırlık50 kg
    Boyutlar (GxDxY)55 x 55 x 32 cm
  3. Standartlar
    • ASTM 6481
    • ASTM 7751
    • IP 501
  4. İletişim Formu
  5. Dokümanlar
  6. İlgili Ürünler